核心挑战概览如果用一句话概括，当今电子测试技术的核心难题是：测试对象（芯片、系统）的复杂性、集成度和工作频率呈指数级增长，而传统测试方法的成本、速度和能力已无法跟上其发展的步伐，形成了日益严峻的“测试瓶颈”，下面我们从几个具体领域展开分析：...
